东京大学的几原雄一教授、柴田直哉副教授携手日本电子等开发出了全球性能最高的电子显微镜。该显微镜的“分辨率”达到0.045纳米（纳米为10亿分之1米），超过了美国研究者创下的记录。据称该显微镜可以精确了解构成物质的原子与原子的位置关系，将对半导体和电池等新材料的开发起到作用。

东京大学和日本电子联合开发的世界最高性能的电子显微镜

　　利用光来观察物质的光学显微镜无法看清小于光波波长的物体。而电子显微镜使用波长远远小于光波的电子束，因此可以看到原子尺度。在新材料开发等最尖端研究领域，电子显微镜日益成为重要武器，因此全球范围的开发竞争正日趋激烈。

　　在观察比原子还小的物体时，类似相机上出现的“影像模糊”将成为问题。研究团队通过计算机进行精密计算，开发出了自动消除影像模糊的装置，借此提高了分辨率。

　　观察用于半导体的硅的表面后发现，原子每两个连接在一起，形成了类似哑铃的结构。而以往的电子显微镜则只能看到一个椭圆形球体。

　　这项成果将于9月9日在捷克布拉格举行的国际显微镜学会上发布。此前的记录是2009年美国劳伦斯·伯克利国家实验室创下的0.047纳米。

用日本研究者研发的电子显微镜观察硅表面，可以发现硅原子每两个连接在一起，形似哑铃。

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